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吉時(shí)利數(shù)字源表系列于要求緊密結(jié)合源和測(cè)量 的測(cè)試應(yīng)用。全部數(shù)字源表型號(hào)都提供精密電壓源和電 流源以及測(cè)量功能。每款數(shù)字源表既是高度穩(wěn)定的直流 電源也是真儀器級(jí)的6位半萬用表。此電源的特性包括 低噪聲、精密和回讀。此萬用表的功能包括可重復(fù)性高 和低噪聲。終形成了緊湊、單通道、直流參數(shù)測(cè)試儀。 在工作時(shí),這些儀器能用作電壓源、電流源、電壓表、電 流表和歐姆表。通信、半導(dǎo)體、計(jì)算機(jī)、汽車和醫(yī)療行業(yè) 的組件和模塊制造商會(huì)發(fā)現(xiàn)吉時(shí)利數(shù)字源表是適于特 性分析和生產(chǎn)測(cè)試等廣泛應(yīng)用的重要源表。
主要特性:
- 集5臺(tái)儀器的功能于一體(IV源、IVR 測(cè)量)
- 6種模式:20W~100W直流、1000W脈沖、1100V至1μV、10A至10pA
- 源和阱(4象限)工作
- 0.012%基礎(chǔ)測(cè)量精度(6位半分辨率)
- 2線、4線和6線遠(yuǎn)程電壓源和測(cè)量感測(cè)
- 1700讀數(shù)/秒(4位半分辨率),通過GPIB
- 通過/失效比較器用于快速排序/分選
- 提供高速感測(cè)線接觸檢查功能
- 可編程DIO端口用于自動(dòng)化/處理程序/探針控制
- 標(biāo)準(zhǔn)SCPI GPIB、RS232和吉時(shí)利觸發(fā)鏈路接口
- 吉時(shí)利LabTracer 2.0版I-V曲線跟蹤應(yīng)用軟件(下載)
典型應(yīng)用
設(shè)備:
- 分立半導(dǎo)體器件
- 無源器件
- 瞬變抑制器件
- IC、RFIC、MMIC
- 激光二極管、激光二極管模塊、LED、光檢測(cè)器
- 電路保護(hù)器件:TVS、MOV、保險(xiǎn)絲等
- 氣袋
- 連接器、開關(guān)、繼電器
測(cè)試:
- 漏電
- 低電壓/電阻
- LIV
- IDDQ
- I-V特性分析
- 隔離和印制線電阻
- 溫度系數(shù)
- 正向電壓、反向擊穿、漏電流
- 直流參數(shù)測(cè)試
- 直流電源
- HIPOT
- 絕緣耐壓測(cè)試序列舉例
緊湊集成儀器的優(yōu)點(diǎn)
通過在單臺(tái)裝置中連接源和測(cè)量電路,這些儀器能 提供多種優(yōu)于單獨(dú)的源和測(cè)量?jī)x器構(gòu)建的系統(tǒng)。例如, 它們極大地縮短了測(cè)試站開發(fā),建立和維護(hù)所需的時(shí) 間,同時(shí)降低了購(gòu)買系統(tǒng)的整體成本。通過去除與使用 多臺(tái)儀器相關(guān)的復(fù)雜同步和連接問題,它們簡(jiǎn)化了測(cè)試 過程本身。而且,緊湊的半機(jī)架尺寸節(jié)省了測(cè)試架或測(cè)試臺(tái)的寶貴“空間”。
集5種儀器功能于一體(IV源、IVR測(cè)量)
源測(cè)量?jī)x器的精密耦合特點(diǎn)相對(duì)分立儀器具有許多優(yōu)點(diǎn)。例如,它具有更短的測(cè)試時(shí) 間,通過減少GPIB的流量并簡(jiǎn)化了遠(yuǎn)程編程接口。它還保護(hù)被測(cè)設(shè)備在偶爾過載、熱失控 等情況下不被損壞。電流源和電壓源都可設(shè)置回讀使器件測(cè)量完整性大化。如果回讀 達(dá)到可編程容限的極限,那么該源就被鉗位在此極限,從而提供錯(cuò)誤保護(hù)。
I-V特性分析
所有數(shù)字源表均提供4象限工作。工作在第1和第3象*,作為電源向負(fù)載輸出 功率。工作在第2和第4象*,作為阱(負(fù)載)吸收能量。在源或阱工作期間都能測(cè) 量電壓、電流和電阻。
自動(dòng)化以提高速度
吉時(shí)利數(shù)字源表提高了生產(chǎn)測(cè)試的效率。它 能在提供電壓源或電流源的同時(shí)進(jìn)行測(cè)量,無需 更改連接,因此適合于在不間斷生產(chǎn)環(huán)境中可靠 地工作。為了提供生產(chǎn)應(yīng)用所需的吞吐率要求, 數(shù)字源表具有許多內(nèi)建功能因而能運(yùn)行復(fù)雜的 測(cè)試序列,無需速度較低的計(jì)算機(jī)控制或GPIB通 信。
標(biāo)準(zhǔn)掃描和定制掃描
掃描方案采用自動(dòng)化鉤子(hook)極大加快 了測(cè)試。三種基本掃描波形可設(shè)置為單事件或連 續(xù)工作,因而非常適于I/V、I/R、V/L和V/R特性分 析。
- -線性階梯掃描:從起始電平到終止電平使用相等的線性步長(zhǎng)
- -對(duì)數(shù)階梯掃描:按照每十個(gè)單位的步數(shù)按對(duì)數(shù)量比例進(jìn)行掃描
- -定制掃描:通過測(cè)量點(diǎn)的數(shù)量和每個(gè)點(diǎn)的輸出電平,支持設(shè)立掃描
- -達(dá)1700讀數(shù)/秒(4位半分辨率),至GPIB總線
- -5000個(gè)讀數(shù)可以存儲(chǔ)在非易失緩沖存儲(chǔ)器中
內(nèi)建測(cè)試定序儀(源存儲(chǔ)器列表)
源存儲(chǔ)器列表提供了更快捷、更方便的測(cè)試,您能設(shè)置和執(zhí)行多達(dá)100種不同的測(cè)試并 能實(shí)現(xiàn)無PC干預(yù)的運(yùn)行。
- -存儲(chǔ)多達(dá)100種儀器配置,每種均包含源設(shè)置、測(cè)量設(shè)置、通過/失效標(biāo)準(zhǔn)等。
- -通過/失效極限測(cè)試速度達(dá)500μs/測(cè)試點(diǎn)
- -板上比較器消除了當(dāng)發(fā)送數(shù)據(jù)至計(jì)算機(jī)分析時(shí)產(chǎn)生的延遲
- -內(nèi)建、用戶定義的數(shù)學(xué)函數(shù)用于計(jì)算推導(dǎo)參數(shù)
測(cè)試 | 通過/失效測(cè)試 | 如果測(cè)試通過 | 如果測(cè)試失敗 |
測(cè)試 1 | 檢查VF1在100mA的通過/失效界限 | 轉(zhuǎn)到測(cè)試2 | 1. 將器件歸為不合格 2. 當(dāng)處理程序在放置新器件時(shí),將數(shù)據(jù)發(fā)送至計(jì)算機(jī) 3. 返回測(cè)試1 |
測(cè)試 2 | 檢查VF2在1A的通過/失效界限 | 轉(zhuǎn)到測(cè)試3 |
測(cè)試 3 | 檢查在-500V的漏電流并測(cè)試通過/失效界限 | 1. 將器件歸為合格 2. 當(dāng)處理程序放置新器件時(shí),將讀數(shù)發(fā)送至計(jì)算機(jī) 3. 返回測(cè)試1 |
數(shù)字I/O接口
數(shù)字I/O接口能將數(shù)字源表連接至許多流行的組件處理程序,包 括Aetrium、Aeco和Robotronics。此接口的其它功能包括:
- 緊湊的系統(tǒng)集成用于分選和排序等應(yīng)用
- 內(nèi)建組件處理程序接口
- 測(cè)試開始和測(cè)試結(jié)束信號(hào)
- 5V、300mA電源
- 可選擴(kuò)展器附件(2499-DIGIO型)增加16條數(shù)字I/O線
觸發(fā)鏈路接口
全部數(shù)字源表都包含吉時(shí)利專有的觸發(fā)鏈路接口,能與許多吉 時(shí)利許多其它儀器建立高速、無縫的通信。例如,使用觸發(fā)鏈路接口 連接數(shù)字源表和7000系列開關(guān)系統(tǒng)以實(shí)現(xiàn)完整的多點(diǎn)測(cè)試方案。在 獨(dú)立于計(jì)算機(jī)和GPIB的高速測(cè)試序列過程中,通過觸發(fā)鏈路,7000系 列開關(guān)系統(tǒng)可被數(shù)字源表控制。
可選接觸檢查功能
在自動(dòng)測(cè)試序列開始之前,接觸檢查功能可以快捷、容易地驗(yàn) 證是否連接良好。這消除了由于接觸疲勞、破損、玷污、松動(dòng)或連接 中斷、繼電器故障等產(chǎn)生的測(cè)量誤差和不真實(shí)的產(chǎn)品缺陷。此功能 的一些性能如下:
- 350μs驗(yàn)證和通知處理時(shí)間
- 數(shù)字源表的輸出在出錯(cuò)之后自動(dòng)關(guān)閉并且直至確認(rèn)接觸良好后再 激活,進(jìn)而保護(hù)被測(cè)器件不被損壞并保護(hù)控制器不受潛在的安全 性威脅。
- 3個(gè)通過/失效閾值:2Ω、15Ω和50Ω
- 在工作過程中,沒有能量通過被測(cè)器件
- 從前面板使能或遠(yuǎn)程通過GPIB使能
- 3種故障通知方法
6線歐姆電路。因?yàn)榇箅娏鞣雷o(hù)使R2兩端電壓為0V,所以全部測(cè)試電流通過R1。
*的6線電阻測(cè)量方法
數(shù)字源表能進(jìn)行標(biāo)準(zhǔn)4線、分裂Kelvin以及6線、帶防護(hù)的電阻測(cè) 量并且能配置為恒流或恒壓方法。6線測(cè)量方法:
- 除了4線感測(cè)和源測(cè)試線之外,還使用防護(hù)和防護(hù)感測(cè)線。
- 鎖定并行電流路徑,當(dāng)測(cè)量電阻排或混合電路隔離被測(cè)元件時(shí)
- 允許用戶用2400系列源表簡(jiǎn)捷地配置和繪制數(shù)據(jù),從而能輕易實(shí) 現(xiàn)兩臺(tái)、三臺(tái)和四臺(tái)終端器件的特性分析
- 深圳市美佳特科技有限公司長(zhǎng)期供應(yīng):
數(shù)字源表:KEITHLEY 2612B,KEITHLEY 2611B,KEITHLEY 2400,KEITHLEY 2500lv
溫度控制器:KEITHLEY 2510-AT
服務(wù)器:RS RS2414+
采樣示波器:Keysight N1092E
UXA信號(hào)分析儀:KEYSIGHT N9040B
時(shí)基參考模塊:Keysight 86107A
可調(diào)諧激光器:Agilent 81600B
光纖通道模塊:Agilent 86105D
帶寬示波器主機(jī):KEYSIGHT 86100D,Agilent 86100C,Tektronix DSA8300,Agilent 86100A
眼圖儀主機(jī):Tektronix DPP125B
光纖通道模塊:Agilent 86105C
時(shí)鐘恢復(fù)模塊:Agilent 83496A
眼圖儀模組:HP/AGILE 86103B,HP/AGILE 86103A,Tektronix 80E04,HP/AGILE 83487A,Tektronix 80C02,HP/AGILE 83480A
時(shí)鐘恢復(fù)模塊:Agilent 83493A
眼圖儀模組接收器:Picometrix PT-12B/TDC
光功率模組:HP/AGILE 81630B,HP/AGILE 81635A,HP/AGILE 81536A,Agilent 81632A,HP/AGILE 81633A
光接口模塊:Keysight 81619A,Tektronix 80C03
回?fù)p儀模組:HP/AGILE 81610A,photom EP-712
光功率模組:Agilent 81632B ,ANDO AQ2730,HP/AGILE 81618A
精密溫控源表:keithley 2510,Keysight E4980A
低偏振相關(guān)光功率傳感器:Agilent 81634B
色散分析儀:Agilent 86038A
信號(hào)發(fā)生器:3844A00891 83623B
相位參考模塊:Tektronix 82A04B
雙通道電模塊:Agilent 83484A
測(cè)試平臺(tái)主機(jī):EXFO IQS-610P HS
傳輸分析儀:Anritsu MP1590B
光色散和損耗分析儀:Agilent E0001A-86038A
通信取樣模塊:tektronix 80C03-CR
積分球:Agilent 81002FF
抖動(dòng)通信性能分析儀:Agilent J7231B
眼圖儀時(shí)鐘模塊:Agilent 54754A
脈沖信號(hào)發(fā)生器:HP 8133A
波導(dǎo)功率傳感器:Agilent V8486A
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