光譜分析儀通過測量光波的重要波長、功率和噪聲特性，將頻譜分析的原理擴展到光學(xué)領(lǐng)域。隨著光纖網(wǎng)絡(luò)和激光應(yīng)用的擴展，光學(xué)測試解決方案和實踐也在不斷發(fā)展，以跟上密集波分復(fù)用、緊縮的信道間距以及大量新光源和傳輸協(xié)議的步伐。通常影響測試曲線顯示效果或測試結(jié)果的參數(shù)設(shè)置可以從以下參數(shù)設(shè)置去考慮：
1、儀表默認(rèn)設(shè)置大多數(shù)光譜分析儀的使用者習(xí)慣采用儀表的默認(rèn)設(shè)置來對被測件進行測試，這本來是無可厚非的，但是，請務(wù)必注意各個廠家儀表的默認(rèn)/初始化設(shè)置后的測試條件可能各不相同，如RES、SPAN、采樣點數(shù)、VBW/模式、波長顯示條件（真空/空氣）等，只有在這些基本的測試條件相同/一致的情況下，才能得到相同的測試曲線或結(jié)果。
2、橫軸設(shè)置起始/截止波長或者中心波長/SPAN橫軸的設(shè)置確定了儀表的波長掃描范圍，如果兩種儀表掃描的波長范圍不同，在屏幕上的顯示曲線位置或形狀自然會有差別。
3、縱軸/電平設(shè)置縱軸的設(shè)置可以信號顯示幅度做縮放處理，比較兩種儀表的顯示時請保持參考電平和刻度（dB/格）相同，否則會讓觀察者有不同的直觀感受。
4、分辨率RES設(shè)置光譜分析儀的RES設(shè)置，直接與儀表顯示的標(biāo)記讀數(shù)值相關(guān)，所以，不同廠家的儀表測試同一被測件時RES設(shè)置相同。通常情況下，RES選擇越小，波長分辨率越高，掃描速度越慢。所以不一定說RES越小就越好，滿足被測件的測試要求就夠了。
5、VBW/模式設(shè)置VBW/模式選擇與顯示曲線的噪聲和掃描時間相關(guān)，一般來說，VBW越小，高頻噪聲濾除越少，曲線越光滑，但同時掃描時間越長，這個需要用戶根據(jù)自己的需要來折中選擇。
6、平均與平滑平均和平滑有一個共同的特點就是可以改善顯示曲線的顯示光滑度，不同的是平均會改變標(biāo)記的讀數(shù)值，而平滑只會改變顯示曲線的平滑度，不影響標(biāo)記的讀數(shù)值。所以，在研究機構(gòu)做研究實驗時，通常為了得到比較美觀的測試曲線顯示，可能會對曲線做平滑處理。
