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chroma 7660 顯示器多探頭自動測試系統(tǒng) 主要特色：多點非接觸式彩色顯示器之輝度與色度量測寬廣之輝度量測范圍 : 0.1 to 9999 cd/m2 (0.03 to 2918 fL)高精準性量測值 :輝度(Y)±2%±1digit色度坐標值(xy)±0.002可支持LCD 、PDP等各式平面顯示器支持 2、5、9、16、25 點等多點同時量測
chroma 11300 直流重疊測試系統(tǒng) 主要特色：高效率，正反向電流切換與掃描功能系統(tǒng)穩(wěn)定度高，頻率響應 : 20Hz到1MHz高準確度，3%輸出電流準確度擴充性強，擴增大到100Adc組立式系統(tǒng)，
chroma 8801 電氣二重層電容自動測試系統(tǒng)，主要特色：適用電氣二重層電容生產(chǎn)線測試，測試參數(shù)包含靜態(tài)容量(Static Capacitance)與內部電阻(IR&ESR)(符合EIAJ RC-2377電氣二重層電容測試方式)開放性架構軟件平臺 -支持含有GPIB 或 RS-232接口儀器 -測試項目編輯功能
chroma 8802 電氣二重層電容漏電流監(jiān)控系統(tǒng)，主要特色：適用于長時間電氣二重層電容漏電流測試測量參數(shù) : 漏電流可程序充電/放電限電流功能，每信道大1安培充放電流的能力可程序充電電壓1μA ~ 100mA范圍，零輸入電阻漏電流表多槽控制功能每槽多200頻道連續(xù)式時間控制窗口控制軟件可程序漏電容判定值，充電/放電限電流值設定治具上漏電流GO/NG指示*規(guī)格細節(jié)可依客戶需求
chroma 3360-D VLSI 測試系統(tǒng)，主要特色：50 MHz 測試頻率32/64 個 I/O 通道8M (標準) /16M (選購) Pattern 記憶體彈性化硬體結構平行測試 : 多 8 DUTsReal Parallel Trim/Match 功能時序頻率測試單位
chroma 3650 SoC 測試系統(tǒng)，主要特色：50/100MHz測試工作頻率512個 I/O 通道(I/O Channel)16M (32M Max.) Pattern 記憶體(Pattern Memory)Per-Pin 彈性資源架構32 DUTS 平行測試功能ADC/DAC
chroma 3772 光伏芯片化學、制程上下貨系統(tǒng) 主要特色：破片率： 0.1%產(chǎn)量： 2400 pcs/hr上貨載具：Cassette下貨載具：Cassette
chroma 8900 電氣產(chǎn)品自動測試系統(tǒng)，主要特色：開放式架構的測試軟件硬件具可擴充性測試鏈接庫可自由編輯測試程序可自由編輯測試項目可自由編輯統(tǒng)計報表使用者授權機制測試紀錄支持條形碼掃描
